產(chǎn)品名稱：二手 日立 SU-8220 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2026-05-22
產(chǎn)品特點(diǎn)：二手 日立 SU-8220 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡冷場(chǎng)發(fā)射高分辨掃描電子顯微鏡配備新型場(chǎng)發(fā)射電子槍，使電子束束流更大、更穩(wěn)定，具有超高分辨率能力，低加速電壓下（1kV）二次電子分辨率可達(dá)1.1nm。 配備Bruker FlatQuad型平插式X射線能譜儀，可對(duì)樣品進(jìn)行高分辨元素分析。應(yīng)用于生物、化學(xué)等納米尺度材料的結(jié)構(gòu)和成分分析。
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
二手 日立 SU-8220 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡：介紹
SU8200 系列（SU8220，SU8230，SU8240）冷場(chǎng)掃描電鏡采用新設(shè)計(jì)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍，其不僅秉承以往冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡全部?jī)?yōu)點(diǎn)，還大幅提高了探針電流，并大大增強(qiáng)了電流的穩(wěn)定性。這些優(yōu)點(diǎn)使得在低加速電壓下，可長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)實(shí)現(xiàn)高分辨觀察和分析功能。
樣品:介孔二氧化硅納 米球；著陸電壓：500 V
樣品：高嶺土；著陸電壓：50V
樣品：Au/Cu2O 核-殼納 米立方體；EDX圖譜條件：5 kV, 0.7 nA, 15 min, 150,000×
在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研發(fā)及納米技術(shù)領(lǐng)域，對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)觀測(cè)是推動(dòng)技術(shù)突破的關(guān)鍵。場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）作為高分辨率成像的核心工具，能夠捕捉納米級(jí)細(xì)節(jié)，為材料成分分析、缺陷檢測(cè)及表面形貌研究提供可靠數(shù)據(jù)。日立SU8200系列（含SU8220、SU8230、SU8240型號(hào)）憑借其冷場(chǎng)發(fā)射電子槍與高精度控制系統(tǒng)，成為實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)場(chǎng)景中常用的分析儀器。
一、技術(shù)原理與核心組成：
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡通過(guò)電子槍發(fā)射高能電子束，經(jīng)電磁透鏡聚焦后掃描樣品表面。電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào)被探測(cè)器收集，最終形成高分辨率圖像。SU8200系列采用冷場(chǎng)發(fā)射電子槍，其曲率半徑極小（約100納米），可在低電壓下產(chǎn)生高亮度電子束，配合0.01～20 kV的著陸電壓調(diào)節(jié)范圍，既可減少對(duì)敏感樣品的損傷，又能優(yōu)化成像對(duì)比度。電子光學(xué)系統(tǒng)與五軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)（移動(dòng)范圍1.5～30毫米）協(xié)同工作，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)定位精度，滿足復(fù)雜樣品的多角度觀測(cè)需求。
二、性能參數(shù)與成像優(yōu)勢(shì)：
該系列電鏡的電子分辨率達(dá)0.6納米（30 kV電壓下），放大倍率覆蓋20至2,000,000倍，可清晰呈現(xiàn)從微米級(jí)顆粒到原子級(jí)晶格的結(jié)構(gòu)特征。冷場(chǎng)發(fā)射電子槍的穩(wěn)定性優(yōu)于熱場(chǎng)發(fā)射類型，能量分散度更低，使得圖像信噪比顯著提升，尤其適合觀察低原子序數(shù)材料（如有機(jī)聚合物、生物樣本）的表面細(xì)節(jié)。此外，5軸樣品臺(tái)支持傾斜、旋轉(zhuǎn)及平移操作，配合低真空模式（可選配），可減少非導(dǎo)電樣品的充電效應(yīng)，擴(kuò)展了金屬、陶瓷、地質(zhì)樣品等硬質(zhì)材料的觀測(cè)范圍。
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