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二手 Hitachi SU8220 冷場發(fā)射電鏡 系列中端冷場發(fā)射電鏡，同系列還有 SU8230、SU8240，后續(xù)迭代型號為 Regulus8220；核心革新是改良型冷場電子槍，解決傳統(tǒng)冷場束流弱、不穩(wěn)定、頻繁閃光的痛點，兼顧超高分辨成像 + 長時間 EDS 元素分析，是納米、半導(dǎo)體、軟材料領(lǐng)域主流機型.
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二手 SEM 賽默飛 Quattro S 掃描電子顯微鏡掃描電鏡結(jié)合了高分辨率成像、多種探測器選項和獨特的環(huán)境模式（ESEM），可在自然狀態(tài)下對多樣化的樣品進行研究。其場發(fā)射槍（FEG）確保了優(yōu)異的分辨率，同時通過不同探測器選項提供多種襯度信息。Quattro具備高真空、低真空和ESEM三種模式，適用于廣泛的樣品類型，包括不導(dǎo)電和潮濕樣品。
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二手 日立 SU-8220 冷場發(fā)射電鏡冷場發(fā)射高分辨掃描電子顯微鏡配備新型場發(fā)射電子槍，使電子束束流更大、更穩(wěn)定，具有超高分辨率能力，低加速電壓下（1kV）二次電子分辨率可達(dá)1.1nm。 配備Bruker FlatQuad型平插式X射線能譜儀，可對樣品進行高分辨元素分析。應(yīng)用于生物、化學(xué)等納米尺度材料的結(jié)構(gòu)和成分分析。
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二手JEOL 場發(fā)射電鏡 SEM+EDX+EBSD的主要特點有：應(yīng)用了浸沒式肖特基電子槍技術(shù)的電學(xué)系統(tǒng)；利用GB（Gentle Beam 模式）和各種檢測器在低加速電壓下能高分辨觀察和選擇信號的TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System）；電疊加的混合式物鏡。
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二手 JEOL JSM-7100F 場發(fā)射掃描電鏡肖特基場發(fā)射掃描電鏡采用通用性強的out-lens式物鏡和High Power Optics（高性能電子光學(xué)系統(tǒng)），操作非常方便?；谟脩粲押玫腟EM可以和具有多種特性的附件組合，如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號的同時觀察 （TTLS系統(tǒng)）、低真空模式（LV系統(tǒng)）下的觀察和分析、用大視場觀察和分析，可以滿足每個用戶的個性化需求。
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二手JEOL JSM-7200F 場發(fā)射掃描電鏡電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統(tǒng)機型有了很大的提升。
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二手日本電子 JSM-7900F 場發(fā)射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時，操作性能簡單化。 該設(shè)備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其最佳性能。
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二手JEOL IT-500HR場發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng)，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領(lǐng)域樣品觀測與成分檢測需求。
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二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準(zhǔn)適配各類樣品，配合E×B技術(shù)實現(xiàn)SE/BSE信號自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。
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二手日立 SU-8230 冷場超高分辨掃描電鏡主要功能及應(yīng)用范圍：微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析?？梢杂^察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。
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