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二手JEOL 場發(fā)射電鏡 SEM+EDX+EBSD的主要特點有：應(yīng)用了浸沒式肖特基電子槍技術(shù)的電學(xué)系統(tǒng)；利用GB（Gentle Beam 模式）和各種檢測器在低加速電壓下能高分辨觀察和選擇信號的TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System）；電疊加的混合式物鏡。
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二手 JEOL JSM-7100F 場發(fā)射掃描電鏡肖特基場發(fā)射掃描電鏡采用通用性強的out-lens式物鏡和High Power Optics（高性能電子光學(xué)系統(tǒng)），操作非常方便。基于用戶友好的SEM可以和具有多種特性的附件組合，如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號的同時觀察 （TTLS系統(tǒng)）、低真空模式（LV系統(tǒng)）下的觀察和分析、用大視場觀察和分析，可以滿足每個用戶的個性化需求。
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二手JEOL JSM-7200F 場發(fā)射掃描電鏡電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標(biāo)配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統(tǒng)機型有了很大的提升。
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二手日本電子 JSM-7900F 場發(fā)射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時，操作性能簡單化。 該設(shè)備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其最佳性能。
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二手 日立 S-3400 掃描電鏡 （SEM）擁有新開發(fā)的電光系統(tǒng)，具有更多的自動化功能，結(jié)合了自動軸功能，包括自動橫梁設(shè)置、自動同軸軸。還具有3kV時低加速電壓保證10nm分辨率、實時顯示兩幅圖像、實時全屏圖像等特點。高性能用于觀察和分析材料的表面形貌和微結(jié)構(gòu)。
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二手 日立 S-3400N 掃描電鏡 在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研發(fā)和工業(yè)檢測領(lǐng)域，高精度微觀分析能力是推動技術(shù)突破的關(guān)鍵。日立 S-3400N 型掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其成像性能和多功能分析能力，成為科研機構(gòu)與企業(yè)的核心檢測工具。作為行業(yè)的設(shè)備解決方案供應(yīng)商,推出的日立 S-3400N 租售服務(wù)，以靈活的模式、專業(yè)的技術(shù)支持和全周期服務(wù)體系，為客戶提供低成本、高可靠性的微觀分析解決方.
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二手JEOL IT-500HR場發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng)，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領(lǐng)域樣品觀測與成分檢測需求。
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二手 日立CD-SEM 掃描電鏡S-9380（臨界尺寸掃描電子顯微鏡）設(shè)備在半導(dǎo)體制造和納米材料研究領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用
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二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準(zhǔn)適配各類樣品，配合E×B技術(shù)實現(xiàn)SE/BSE信號自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。
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二手日立 SU-8230 冷場超高分辨掃描電鏡主要功能及應(yīng)用范圍：微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析?？梢杂^察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。
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